半导体冷热台
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半导体冷热台CH120-30-4PV采用半导体致冷，配合低温循环液，实现从-40到180℃（选型）的控温。
结构紧凑，适用于各种变温测试
气密腔室设计，可通保护气体
多探针测试
上位机软件控制
支持改动或定制
温控特性
1. 温度范围：
下限温度(℃)（选型）：A. -30 B. -40
上限温度(℃)（选型）：A. 120 B. 180
2. 控温速度：0~10℃/min
3. 温度分辨率：0.1℃ 4. 温度稳定性：±0.1℃
5. 温度控制：高精度PID控制
6. 载样台材质：铜
7. 温度传感器：PT100
8. 冷却方式：低温循环液
光学特性
1. 光路：反射光路
2. 视窗：可拆卸更换，可用不同材质玻璃实现不同波段光观察
3. 最小物镜工作距离：12.0mm
4. 上盖视窗：φ25mm
结构特性
1. 样品台面尺寸：40x40mm（以实际尺寸为准）
2. 样品腔高度：9.0mm（载样台上部空间高度）
3. 放样：移除上盖后放置样品，固定探针
4. 气氛控制：默认气密腔室，通过2个快速自锁接头，充入保护气氛
*可升级为真空腔室，10-3mBar
5. 安装固定：水平安装
6. 台体尺寸：150x150x36mm
电学特性
1. 探针：4个固定式探针（紫铜镀金）
2. 探针接口：默认为BNC接头
*可升级为同轴BNC
3. 样品台面电位：默认电悬空，可选电接地
配置清单
基本配置：
LRT-P1冷热台 x1 高低温控制器 x1 低温冷却循环机 x1 温控软件 x1
选配：
电脑主机/安装支架/测试源表/同轴BNC/真空系统/湿度控制系统/定制控制软件
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